X-RAY镀层测厚仪，X-RAY膜厚仪，X射线荧光镀层测厚仪

美国博曼（Bowman）BA-100系列 X射线荧光毛细管镀层测厚仪 O系列

美国博曼（Bowman） BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪;为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。 

仪器型号：BA-100-O-OPT

Bowman BA-100 Optics 机型采用业界较先进的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。 

Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应较严格的微区、**薄镀层，以及痕量元素分析需求。 

优秀的测试性能、**的微区测量能力，Bowman BA100 Optics机型是研究开发、质量管控的较佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。 

稳定的X射线管 
微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑点 
射线出射点预置于射线管Be窗正* 
**命的射线管灯丝 
*有的预热和ISO温度适应程序 

多孔毛细管聚焦光学结构 
显着提高X射线信号强度 
获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度 
小于100um直径的测量斑点 
经过验证，接近**的测量精度