XRF镀层测厚仪俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等,主要用于精密测量金属电镀层的厚度。 美国博曼(Bowman)BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪-为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。 美国博曼(Bowman)分析仪器即使在客户遇到较严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。 智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便,在合理的价格范围内显着提升您的镀层产品质量控制。 性能与可操作性的较优化 紧凑式设计,改善效率和精度 高分辨半导体固态探测器(Si-Pin),提高稳定性和灵敏度 更短的预热时间,开机5分钟内即可测量产品,更**命的光管 4种规格:0、0.1、0.5、1mm的一次滤波器 可配: 单准直器(型号:BA-100-B-SFF) 多准直器(型号:BA-100-B-MFF) 可变焦多准直器(型号:BA-100-B-MVF) 可变焦距6.3--12.5-25.5-38mm,以适应复杂样品的测量需求 模块化设计,方便维修、维护